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膜電極瑕疵檢測(cè)設(shè)備

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

該設(shè)備用于膜電極的外觀瑕疵檢測(cè)及2D尺寸測(cè)量

詳細(xì)介紹

該設(shè)備用于膜電極的外觀瑕疵檢測(cè)及2D尺寸測(cè)量，詳情如下：

邊框區(qū)：氣泡、劃傷、褶皺、波浪紋等（需具體評(píng)估）

反應(yīng) 區(qū)：質(zhì)子膜穿孔/破損、催化劑層脫落等（需具體評(píng)估）

GDL破損、GDL斷裂等（需具體評(píng)估）

尺寸測(cè)量：產(chǎn)品總長(zhǎng)寬尺寸測(cè)量、產(chǎn)品孔槽特征內(nèi)徑尺寸測(cè)量等（需具體評(píng)估）

該設(shè)備采用2個(gè)高清相機(jī)相機(jī)

光柵尺觸發(fā)獲取圖像

世椿自研檢測(cè)系統(tǒng)，重復(fù)精度±0.02mm，超大數(shù)據(jù)存儲(chǔ)容量

主要工藝

膜電極的外觀瑕疵檢測(cè)機(jī)的設(shè)計(jì)旨在開發(fā)一款能夠?qū)δる姌O進(jìn)行高精度瑕疵檢測(cè)的設(shè)備，匹配五合一半成品膜電極檢測(cè)及七合一成品膜電極檢測(cè)等應(yīng)用場(chǎng)景。設(shè)備采用高精度高清相機(jī)進(jìn)行掃描成像，世椿自研檢測(cè)系統(tǒng)。產(chǎn)品支持全自動(dòng)/半自動(dòng)/人工上下料。

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