基于 XDS NIR 技術的 XDS RCA 近紅外光譜分析儀對固體和液體化學品和藥物配方的快速無損測量提供了新一代專用近紅外分析方案。用戶可以使用 XDS RCA 近紅外光譜分析儀取代常規(guī)試驗，縮短產(chǎn)品的檢驗檢疫放行時間。無論在實驗室還是現(xiàn)場離線分析都可以對原始樣品瓶、袋子或瓶子中的樣品進行成分或材料鑒別檢測。采用固體樣品分析模塊，得以對固態(tài)樣品的分析范圍涵蓋從精細粉末到粗顆粒、球狀顆粒和片狀顆粒藥物等幾乎所有固體。選配的光斑可調(diào)功能，可以根據(jù)樣品的物理性質(zhì)調(diào)節(jié)樣品照度。 XDS NIR 技術不僅帶來了*的分析性能，同時也加快了定標方法的研發(fā)，縮短了實施時間，保證了定標的無縫轉(zhuǎn)移。使用、界面友好、具有聯(lián)網(wǎng)能力的 Vision 軟件可以輕松實現(xiàn)鑒定、定性和定量等方法。只需按下一個按鍵或單擊鼠標就能完成準確的分析。

詳細介紹

儀器特性及優(yōu)勢

•XDS NIR 技術確保使用簡單和定標的無縫轉(zhuǎn)移

•不到 1 分鐘即可完成固體和液體的無損分析——通過袋子、玻璃樣品瓶或燒杯等

•無需樣品制備，無需試劑，無任何廢棄物

• 面向集中數(shù)據(jù)庫管理的網(wǎng)絡分析儀

•熱插拔模塊——幾分鐘內(nèi)即可完成更換，不會影響性能

儀器簡介

基于 XDS NIR 技術的 XDS RCA 近紅外光譜分析儀對固體和液體化學品和藥物配方的快速無損測量提供了新一代專用近紅外分析方案。

用戶可以使用 XDS RCA 近紅外光譜分析儀取代常規(guī)試驗，縮短產(chǎn)品的檢驗檢疫放行時間。無論在實驗室還是現(xiàn)場離線分析都可以對原始樣品瓶、袋子或瓶子中的樣品進行成分或材料鑒別檢測。

采用固體樣品分析模塊，得以對固態(tài)樣品的分析范圍涵蓋從精細粉末到粗顆粒、球狀顆粒和片狀顆粒藥物等幾乎所有固體。選配的光斑可調(diào)功能，可以根據(jù)樣品的物理性質(zhì)調(diào)節(jié)樣品照度。

XDS NIR 技術不僅帶來了*的分析性能，同時也加快了定標方法的研發(fā)，縮短了實施時間，保證了定標的無縫轉(zhuǎn)移。