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ZEM Ultra場(chǎng)發(fā)射臺(tái)式掃描電鏡

產(chǎn)品介紹

ZEM Ultra 臺(tái)式掃描電鏡采用肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源，三級(jí)獨(dú)立真空設(shè)計(jì)，優(yōu)于2.5nm的分辨率滿足多數(shù)樣品微納結(jié)構(gòu)表征需求。標(biāo)配大束流及大樣品倉(cāng)，支持原位功能樣品臺(tái)及EDS/EBSD拓展。

產(chǎn)品特色

▲ 全自動(dòng)操作

▲ 肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍

▲ 高穩(wěn)定性

▲ 高分辨觀測(cè)

▲ 豐富拓展

▲ 易用性強(qiáng)

產(chǎn)品參數(shù)

圖像像素尺寸（默認(rèn)）：512*512（視頻）2048*2048（拍照）

燈絲類型：場(chǎng)發(fā)射燈絲

電動(dòng)樣品臺(tái)：XY二軸/XYZ三軸/XYT三軸/五軸

探測(cè)器類型：BSE、SE、EDS

減速模式：選配（0-10kv樣品臺(tái)電壓減速）

應(yīng)用案例

金顆粒150000X （左）碳納米管 20000X（右）

磷酸鐵鋰 30000X（左）二氧化硅 100000X（右）