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澤攸科技臺階儀JS2000B

產(chǎn)品介紹

澤攸科技全自動臺階儀JS2000B是一款高精度、高分辨率的測量設(shè)備，采用一體花崗巖結(jié)構(gòu)，確保測量的穩(wěn)定性與可靠性。配備雙彩色攝像頭，可清晰無畸變地觀察樣品和針尖，實現(xiàn)精準定位與實時監(jiān)控。適用于薄膜厚度、多晶硅粗糙度、翹曲度、應(yīng)力及3D掃描成像等測量任務(wù)，并支持計劃任務(wù)和多點掃描批量測試，廣泛應(yīng)用于半導體、材料科學等領(lǐng)域。其核心技術(shù)包括精密成像、自動控制和數(shù)據(jù)分析處理。

• 刻蝕、沉積和薄膜等厚度測量

• 薄膜多晶硅等粗糙度、翹曲度等材料表面參數(shù)測量

• 各式薄膜等應(yīng)力測量

• 3D掃描成像

• 計劃任務(wù)和多點掃描

• 批量測試晶圓，批量處理數(shù)據(jù)等

應(yīng)用領(lǐng)域

產(chǎn)品組成

突破三大核心技術(shù)

產(chǎn)品特色

技術(shù)指標

臺階高度最大范圍：≤80um

臺階高度重復性：≤0.5nm

垂直分辨率：0.05nm

探針加力范圍：0.5mg~50mg

單次掃描長度：≤55mm

晶圓尺寸：可兼容6寸、8寸Wafer

晶圓厚度：≤10mm

圖像識別系統(tǒng)精度:定位精度優(yōu)于±10um

機械動作穩(wěn)定性:馬拉松傳送測試>500片

生產(chǎn)效率:WPH≥10片(單面量測≥5個位置)

案例應(yīng)用

18nm樣品

68um樣品