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2025-03-19
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日本Hanwa-HED-G5000全自動(dòng)HBM/MM/Latch-up測(cè)試機(jī)、HANWA ESD測(cè)試機(jī)
全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品概要：
HANWA新一代G5000系列ESD 全自動(dòng)靜電破壞檢測(cè)機(jī)已上市，搭載多Pin腳無(wú)繼電器的GND模組（Z高支持MAX2048pin），全不受寄生電容的影響，實(shí)現(xiàn)高精度檢測(cè)。此設(shè)備是符合日本及國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備 （滿足JEITA / ESDA / JEDEC規(guī)格）可用于閂鎖測(cè)試，并適用脈沖電 流法·電源過(guò)電壓·ESD脈沖印加法。汽車電子AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)，車規(guī)級(jí)集成電路可靠性靜電HDM/CDM測(cè)試。
技術(shù)優(yōu)勢(shì)：
1、適應(yīng)以下國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)波形: JEDEC，ESDA，AEC和JEITA。
2、該系統(tǒng)特別的短路放電電路可通過(guò)其原始機(jī)械設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)。
3、短路Z大限度地減少電感和電容對(duì)數(shù)據(jù)的影響。
4、使用單個(gè)電路可確保每個(gè)器件引腳的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。
全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備主要應(yīng)用：
芯片靜電破壞自動(dòng)測(cè)定裝置。
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